| 品牌 | 廣皓天 | 溫度范圍? | -20℃~150℃ |
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| 解析精度? | ?0.01℃；0.1%RH | 溫濕度偏差? | ?±1.0℃；±2.5%RH? |
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| 升溫時(shí)間 | 升溫+60℃→150℃≤25min | 降溫時(shí)間? | ?+20℃→-60℃≤60min |
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| 外箱 | 防銹處理冷軋鋼板噴涂 | 內(nèi)箱 | ?304不銹鋼 |
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| 絕緣材料 | 硬質(zhì)聚氨酩泡沫塑料 | 制冷方式 | 機(jī)械式雙級壓縮制冷方式 |
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| 制冷機(jī) | 法國泰康 | | |
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低噪快速溫變試驗(yàn)箱
用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測試的的一項(xiàng)測試箱
低噪快速溫變試驗(yàn)箱
作用：
適用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測試的的一項(xiàng)測試箱。
特點(diǎn)：
1、簡易控制面板，全彩觸摸屏控制，溫同時(shí)可程控。
2、采用原裝法國“泰康"拍壓縮機(jī)循環(huán)系統(tǒng)，運(yùn)行更加穩(wěn)定可靠。
3、玻璃觀視窗，可在實(shí)驗(yàn)中進(jìn)行試驗(yàn)品觀察使用，具有防汗電熱器裝置，防止水汽凝結(jié)水滴，高亮度熒光燈保持箱內(nèi)照明。
4、不銹鋼內(nèi)箱，操作簡單，低噪音。
冷凍系統(tǒng)：
壓縮機(jī):法國泰康密閉式壓縮機(jī)，兩元式制冷系統(tǒng)（風(fēng)冷配）；比澤爾壓縮機(jī)（水冷配）。
3.2冷媒:環(huán)保冷媒R404A+R23
3.3冷凝器:水冷殼管式冷凝器+冷卻水塔（水冷配）
3.4蒸發(fā)器:鰭片式多段式自動(dòng)負(fù)載容量調(diào)整
3.5其它附件:干燥劑，修理閥
3.6膨脹系統(tǒng):容量自動(dòng)控制節(jié)流降壓之冷凍系統(tǒng)
升溫時(shí)間：非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）
線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）
降溫時(shí)間：非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）
線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃
組成：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是指能同時(shí)施加溫度、應(yīng)力的試驗(yàn)箱。由制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、溫度和傳感器系統(tǒng)等組成。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法：
GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3冷熱沖擊試驗(yàn)箱。
使用冷熱沖擊試驗(yàn)箱需要注意的事項(xiàng)：
1、應(yīng)遠(yuǎn)離火爐、散熱器等熱源。同時(shí)，應(yīng)避免陽光直射。這有利于冷熱沖擊試驗(yàn)箱。
2、應(yīng)放置在地面穩(wěn)定的地方。否則，壓縮機(jī)啟動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生振動(dòng)，產(chǎn)生大量噪聲，長期縮短冷熱沖擊試驗(yàn)箱的使用壽命。
3、應(yīng)放置在通風(fēng)良好的地方。測試箱的背面離墻應(yīng)大于60厘米，頂部高度應(yīng)大于60厘米。周圍不應(yīng)有過多的碎屑。
快速溫變試驗(yàn)箱符合以下標(biāo)準(zhǔn)要求：
1、GB/T5170.2-2008 《溫度試驗(yàn)設(shè)備》；
2、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Ab》；
3、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Bb》；
4、IEC 60068-2-14 2009 《環(huán)境試驗(yàn).第2-14部分試驗(yàn).試驗(yàn)N溫度的改變》。
2025-08-08
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